René Guinebretière et Philippe Goudeau - Rayons X et matière 5 - RX 2013.

Rayons X et matière 5 - RX 2013 (Broché)

Name: Rayons X et matière 5
Price: 91 EUR
Availability: Instock
Author: René Guinebretière
ISBN: 9781784053086

René Guinebretière, Philippe Goudeau

Collectif

ISTE éditions
Paru le : 01/01/2017

Pédagogique, la série Rayons X et Matière offre une synthèse de référence des différents aspects de l'interaction entre le rayonnement X et la... > Lire la suite

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Pédagogique, la série Rayons X et Matière offre une synthèse de référence des différents aspects de l'interaction entre le rayonnement X et la matière, qu'il s'agisse de développements instrumentaux, d'approches méthodologiques ou d'applications de l'étude de cette interaction à un champ scientifique spécifique. Ce cinquième volume présente des considérations de principe décrivant la diffusion des rayons X et s'étend jusqu'à des applications particulières en passant par la description de certaines méthodes expérimentales spécifiques.
Les chapitres, rédigés par des auteurs reconnus, correspondent à des conférences invitées qui ont été présentées lors du colloque Rayons X et matière - RX2013.

Fiche technique

Résumé
Fiche technique
Auteurs

Date de parution : 01/01/2017
Editeur : ISTE éditions
Collection : Science des matériaux
ISBN : 978-1-78405-308-6
EAN : 9781784053086
Format : Grand Format
Présentation : Broché
Nb. de pages : 314 pages
Poids : 0.5 Kg
Dimensions : 15,8 cm × 23,5 cm × 1,8 cm

À propos des auteurs

Résumé
Fiche technique
Auteurs

René Guinebretière est professeur à l'université de Limoges. Il enseigne la diffraction des rayons X et la physique des matériaux. Ses recherches portent sur l'élaboration et la caractérisation par diffusion et diffraction des rayons X de nanomatériaux oxydes au sein du laboratoire SPCTS associé au CNRS. Philippe Goudeau est directeur de recherche au CNRS au sein du département physique et mécanique des matériaux de l'institut Pprime de l'université de Poitiers.
Ses recherches concernent l'étude des effets de microstructure et de taille sur les propriétés mécaniques des films minces par diffraction des rayons X en laboratoire et sur des sources synchrotrons.