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Introduction à la cristallographie la physique cristalline et la cristallochimie (Broché)

  • Ellipses

  • Paru le : 26/08/2014
Le présent ouvrage est issu de plusieurs cours donnés aux élèves-ingénieurs de l'Ecole nationale supérieure de physique de Grenoble, intégrée... > Lire la suite
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Le présent ouvrage est issu de plusieurs cours donnés aux élèves-ingénieurs de l'Ecole nationale supérieure de physique de Grenoble, intégrée maintenant dans l'École nationale supérieure de physique, électronique, matériaux (Phelma), l'une des écoles d'ingénieurs de Grenoble-INP Il s'adresse aux étudiants en école d'ingénieurs en fin de Licence et en Master 1 et 2. L'originalité de l'ouvrage tient au fait qu'il est complet puisqu'il rassemble les bases de la cristallographie et ses implications en physique du solide, en chimie du solide et en sciences des matériaux.
L'auteur s'est attaché à exposer ces bases avec un maximum de précisions, en adoptant volontairement un point de vue géométrique, pour habituer les étudiants à une vision tridimensionnelle des structures cristallines. L'ouvrage rassemble en partie I les bases de la cristallographie, en détaillant, d'une part la symétrie d'un point de vue macroscopique, et d'autre part la symétrie à l'échelle atomique.
La partie II traite de la diffraction des rayons X et s'adresse essentiellement aux étudiants désireux de travailler dans le domaine de la cristallographie. La partie III concerne plus généralement les étudiants intéressés par la physique du solide, puisque y est exposée l'influence de la symétrie sur les propriétés physiques, en introduisant les tenseurs permettant de traduire mathématiquement cette influence.
La partie IV s'adresse plus spécialement aux étudiants en chimie du solide et en sciences des matériaux. Cette partie traite des règles relatives à l'agencement atomique dans les cristaux, détaille les empilements atomiques et les structures cristallographiques élémentaires. Un dernier chapitre traite des défauts dans les cristaux, et en particulier des macles.
  • LES BASES DE LA CRISTALLOGRAPHIE ET DE LA DIFFRACTION DES RAYONS X
  • INTERACTION DES RAYONS X AVEC LA MATIERE : EMISSION, ABSORPTION, DIFFUSION DES RAYONS X
  • SYMETRIES ET PROPRIETES PHYSIQUES DES CRISTAUX
  • CRISTALLOCHIMIE - STRUCTURES ELEMENTAIRES - IMPERFECTIONS CRISTALLINES - MACLES
  • Date de parution : 26/08/2014
  • Editeur : Ellipses
  • Collection : Références sciences
  • ISBN : 978-2-340-00013-1
  • EAN : 9782340000131
  • Présentation : Broché
  • Nb. de pages : 716 pages
  • Poids : 1.325 Kg
  • Dimensions : 19,0 cm × 24,0 cm × 3,8 cm

À propos de l'auteur

Biographie de Jean Muller

Jean Muller a obtenu son doctorat de physique en 1977 (spécialité cristallographie), en temps qu'assistant ô l'université Joseph Fourier de Grenoble. En 1978, il est nommé maître de conférences en entrant à l'Ecole nationale supérieure de physique de Grenoble. De 1994 à 2004 il a été directeur des études de cette école, où il a enseigné la cristallographie.

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