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Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée (Broché)

  • ISTE éditions

  • Paru le : 01/07/2016
Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales... > Lire la suite
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Cet ouvrage étudie la détection des défauts de matériaux par la lumière polarisée à partir d'une analyse optimisée des données expérimentales basée sur des modèles statistiques et théoriques. Les méthodes mises en oeuvre dans le cadre de recherches fondamentales sur les matériaux innovants sont explicitement décrites. Ce titre développe également les différentes théories sur la lumière, ses états de polarisation et son interaction avec la matière.
Il présente les techniques optiques de type sonde et pompe-sonde qui permettent de caractériser les défauts des matériaux susceptibles d'impacter la performance d'un produit.

Fiche technique

  • Date de parution : 01/07/2016
  • Editeur : ISTE éditions
  • Collection : Génie mécanique et mécanique d
  • ISBN : 978-1-78405-165-5
  • EAN : 9781784051655
  • Format : Grand Format
  • Présentation : Broché
  • Nb. de pages : 290 pages
  • Dimensions : 15,5 cm × 23,5 cm × 1,5 cm
Pierre Richard Dahoo et Philippe Pougnet - Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée.
Défauts à l'échelle nanométrique en lumière polarisée
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