Menu
Mon panier

En cours de chargement...

Recherche avancée

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique - Volume 1, Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes (Broché)

  • ISTE éditions

  • Paru le : 01/01/2022
Les innovations en rupture dans les domaines de l'ingénierie quantique et des nanosystèmes s'appuient sur les méthodes développées en recherche.... > Lire la suite
  • Plus d'un million de livres disponibles
  • Retrait gratuit en magasin
  • Livraison à domicile sous 24h/48h*
    * si livre disponible en stock, livraison payante
90,10 €
Expédié sous 2 à 4 semaines
  • ou
    À retirer gratuitement en magasin U
    entre le 23 octobre et le 8 novembre
Les innovations en rupture dans les domaines de l'ingénierie quantique et des nanosystèmes s'appuient sur les méthodes développées en recherche. Une maîtrise des techniques de mesure et de l'application de modèles théoriques basés sur les principes de la mécanique quantique sont nécessaires. Cet ouvrage présente des méthodes expérimentales pour développer et caractériser les matériaux à l'échelle nanométrique, pour des cas pratiques d'applications des ondes électromagnétiques tels que la 5G ou l'hétérodynage en optique.
Il traite également des matériaux intelligents par le couplage électromécanique des piézoélectriques, en se focalisant sur la réduction des échelles et sur les applications électromécaniques. L'utilité des méthodes d'analyse statistique basées sur les facteurs de sûreté et sur les techniques de calcul les plus avancées en fiabilité est démontrée pour l'optimisation des systèmes employés dans la caractérisation, l'expérimentation et la conception de produits industriels.
Les auteurs

Fiche technique

  • Date de parution : 01/01/2022
  • Editeur : ISTE éditions
  • Collection : Fiabilité des systèmes multiph
  • ISBN : 978-1-78405-793-0
  • EAN : 9781784057930
  • Format : Grand Format
  • Présentation : Broché
  • Nb. de pages : 206 pages
  • Poids : 0.345 Kg
  • Dimensions : 15,5 cm × 23,5 cm × 1,2 cm

À propos des auteurs

Pierre Richard Dahoo est professeur à l'Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines, chercheur au LATMOS et directeur de l'Institut des sciences et techniques des Yvelines. Philippe Pougnet est un expert en fiabilité et en technologie-produit-processus de systèmes mécatroniques embarqués. Il est ingénieur-docteur de l'Université de Grenoble Alpes et ingénieur de l'INPG. Abdelkhalak El Hami est professeur des universités à l'INSA de Rouen Normandie.
Il est également directeur du département de mécanique et responsable de la Chaire de mécanique du CNAM en Normandie.

Applications et métrologie à l'échelle nanométrique - Volume 1, Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes est également présent dans les rayons

Pierre Richard Dahoo et Philippe Pougnet - Applications et métrologie à l'échelle nanométrique - Volume 1, Matériaux intelligents, ondes électromagnétiques et incertitudes.
Applications et métrologie à l'échelle nanométrique. Volume 1,...
90,10 €
Haut de page